Ved at udnytte avanceret computerlaminografi og integreret AI-teknologi bringer Comet Yxlon
højopløselig 3D-røntgenkapacitet til frontlinjen for detaljeret test i den avancerede pakning af integrerede kredsløb. For første gang har halvledermarkedet nu et ikke-destruktivt supplement eller alternativ til konventionelle destruktive metoder. Tredimensionelle røntgenbilleder med en opløsning på mindre end 1 μm kan pålideligt identificere typiske defekter i 3D IC-loddeforbindelser, såsom manglende og overbyggede bumps, hulrum, ikke-våd, head-in-pillow, bump shift og afvigelser i standoff-højde eller deformationer. Moderne analysesoftware baseret på deep learning overtager den automatiske evaluering, herunder rapportgenerering i henhold til brugerens krav. Det nye røntgeninspektionssystem CA20 tilbyder derfor halvlederindustrien et helt nyt niveau af sikkerhed og effektivitet.

Halvledere er blevet en integreret del af vores netværksbaserede verden. Det stiller store krav til producenterne, da innovationscyklusserne bliver kortere og kortere, mens kompleksiteten i de integrerede kredsløb konstant øges. For at forblive konkurrencedygtige er der et særligt fokus på at reducere investeringsomkostninger og fremskynde ramp-up-processer for hurtigere at opnå fejlfri produktion af nye, højtydende komponenter. Den tidlige identifikation af kritiske defekter fremskynder udviklingen og optimeringen af nye produktionsprocesser betydeligt og dermed produktionsopstarten af nye chipgenerationer.

Med CA20-inspektionssystemet har Comet Yxlon taget 3D-røntgenteknologi til halvlederindustrien til et helt nyt niveau. Det komplette redesign af hardwaren, der er optimeret til halvlederapplikationer med hensyn til stabilitet, billeddannelse, præcision og vedligeholdelseskrav, Comet Yxlon GmbH Side 2 af 3 kombineret med højopløselig computerlaminografi og softwarepakker som Dose Manager, Batch Manager og 'Insights' til automatiserede evalueringer sikrer nøjagtighed, pålidelighed og effektivitet til alle inspektionsopgaver. Alle funktioner er nemme og intuitivt tilgængelige via Geminy-brugergrænsefladen, som har bevist sit værd i Comet Yxlon FF- og UX-produktserierne, udstyret med grafiske symboler, guider og forskellige forudindstillinger til ethvert færdighedsniveau.

"Som en ledsagende inspektionsmetode allerede i forskning og udvikling af nye mikrochips og deres produktionsprocesser, vil den nye CA20 revolutionere halvlederindustrien," siger Christian Driller, Vice President R&D hos Comet Yxlon. "CA20 vil sikre, at ramp-up-processer og time-to-market accelereres dramatisk, den nuværende høje skrotprocent vil blive reduceret, og udbyttet vil dermed stige betydeligt. Systemet bringer målet om nul defekter inden for rækkevidde."

I går eftermiddag lancerede Comet Yxlon officielt systemet med live-demonstrationer og inviterede gæster. Under forskellige præsentationer på konferencen havde Stephan Haferl (CEO Comet), Dionys van de Ven (President Comet Yxlon), Isabella Drolz (Vice President Product Marketing Comet Yxlon) og Christian Driller allerede henvist til den betydningsfulde begivenhed før. Den nye standplacering i hal B2, som deles af productronica og Semicon Europa side om side, indikerer, hvor Comet Yxlons rejse er på vej hen: De mindste fejl er de største udfordringer i dagens verden, og Comet Yxlon gør dem synlige med sin teknologi i tråd med sit løfte: Se bedre. Hurtigere. Mere om det.